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        2. 邁克爾遜激光干涉儀測量原理

          2017-04-03

           激光器是60年代初期出現(xiàn)的一種新型光源,激光是從激光器發(fā)射出來的光,它與普通光源發(fā)出的光不同,具有亮度高,方向性、單色性和相干性好等特點。自從氦氖激光器出現(xiàn)以后,用激光干涉法測量長度的技術(shù)取得了很大進(jìn)展。目前已廣泛應(yīng)用于精密長度計量(包括線紋尺、光柵檢定、精密絲杠動態(tài)測量、振動測量等)、精密機(jī)床控制以及高精度電子精密機(jī)械設(shè)備的精密定位等方面。

                在精密長度計量或電子精密機(jī)械設(shè)備定位技術(shù)中,邁克爾遜激光干涉儀是常用的一種型式,其原理如圖9-34所示。
                由氦氖激光器發(fā)出的激光,經(jīng)過準(zhǔn)直透鏡變?yōu)橐皇叫泄猓渡涞桨胪该靼敕瓷溏RB上,光束被分成兩路。一路反射光a被反射到固定反射鏡M1 ,另一路反射光b射向可動反射鏡M2 。M1和M2 又分別把兩束光反射回半透明半反射鏡B表面會合,由于B到M1 和M2 的距離不相等,兩束光a和b的傳播就產(chǎn)生了光程差,如果在P處設(shè)置一觀察屏,兩束光就在觀察屏P上疊加產(chǎn)生干涉,可以看到明暗相間的干涉條紋。
                兩束光在觀察屏P中心處相遇時產(chǎn)生干涉,干涉的結(jié)果,是兩束光互相加強(qiáng)還是互相減弱或抵消,則由這兩束光的光程差ΔL決定(光程等于光所走過的幾何路程與介質(zhì)折射率的乘積,空氣的折射率近似等于1)。由圖9-23可見,a、b兩束光到達(dá)觀察屏P中心的光程差為
                                   ΔL = 2( BM2 – BM1) = 2( Lm-Lc)       (9-6)
                當(dāng)光程差ΔL為激光波長λ的整數(shù)倍時,即
                                  ΔL = Nλ    (N為正整數(shù))             (9-7)
                則兩束激光相互加強(qiáng),在觀察屏P中心處出現(xiàn)亮條紋。
                當(dāng)光程差ΔL為激光半波長奇數(shù)倍時,即
                                (9-8)
                則兩束激光相互抵消,在觀察屏P中心處出現(xiàn)暗條紋。
                若將動反射鏡M2 移動距離L到M 2 ,由于光束b光程的變化,觀察屏P中心處的干涉條紋將出現(xiàn)明暗交替變化。顯然,當(dāng)M2移動λ/2距離時,干涉條紋就明暗交替變化一次。若在觀察屏中心處記錄下明暗交替變化的次數(shù)N,那么,就可測量出M2 移動到M 2 所經(jīng)過的距離L,即
                                                                                       (9-9)
                這就是邁克爾遜激光干涉儀測量長度的公式。
                對實際的干涉儀,如果介質(zhì)為空氣,則上式改寫為
                                                            (9-10)
                式中 L——被測長度(μm),即動反射鏡M2 相對于B的移動距離‘
                n——空氣折射率;
                N——觀察屏上干涉條紋明暗變化的次數(shù)。
                在一臺實際的邁克爾遜型激光干涉測長儀中,測量是這樣進(jìn)行的:
                在時刻t1 ,參考鏡(固定鏡)M1 和動鏡M2 處于測量的起始位置,如圖9-23所示。此時有初始光程差2(Lm - Lc),對應(yīng)的干涉條紋數(shù)為
                                                                                     (9-11)
                式中 Lm——測量臂長度(μm );
                Lc——參考臂長度(μm )。
                在時刻t2 ,測量結(jié)束。動鏡M2移過被測長度L(或定位距離)后處于 位置。此時光程差為
           對應(yīng)的干涉條紋數(shù)為
                                        (9-12)
          顯然N=N2+N1                                            (9-13)
          其中
                                                                                    (9-14)
                 在實際測量中,都采用干涉條紋計數(shù)法。測量開始時使計數(shù)器置零(使N1 = 0),對應(yīng)于被測長度,計數(shù)器計得的干涉條紋數(shù)為N = N2 。
                 需要指出的是,當(dāng)測量是在嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下進(jìn)行,即n、λ0、Lm、Lc和被測長度或定位長度L在整個測量過程中完全保持不變時,可用公式(9-14)作為測量的基本公式。然而,在一切實際的測量中很難做到,為此,必須全面地計入在測量時間間隔(t2-t1)內(nèi)。由于上述參數(shù)變化對測量結(jié)果所造成的影響,所以式(9-12)僅作為測量的基本公式。
                 在要求進(jìn)行高精度測量的場合,則需要全面地考慮測量時環(huán)境條件對標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)偏離的影響,和在(t2-t1)測量時間內(nèi)環(huán)境條件的變化(包括溫度、濕度、氣壓、結(jié)構(gòu)件的變形等)引起n、λ0、Lm、Lc 和L等參數(shù)變化對測量結(jié)果的影響。
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