平面平晶是用于以光波干涉法測量塊規(guī)，以及檢驗塊規(guī)、量規(guī)、零件密封面測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的工具。平面平晶分為單、雙工作面平晶。按照用途也可分為標準平晶和工作平晶兩大類。工作平晶分為1，2級，標準平晶分為1，2級。其外形見圖