在有些應(yīng)用中,根據(jù)樣品的形狀、裝夾方法、或者模擬樣品使用狀態(tài)下測(cè)量,正立式干涉儀結(jié)構(gòu)相比臥式和倒立式更有優(yōu)勢(shì)。例如半球形球罩面形和曲率半徑的測(cè)量,正立式結(jié)構(gòu)能夠?qū)崿F(xiàn)盤上測(cè)量以及下盤后的無夾持應(yīng)力測(cè)量,而臥式結(jié)構(gòu)無法夾持半球,倒立式結(jié)構(gòu)測(cè)量盤上時(shí)需要支撐樣品和磨盤的重力,易造成樣品變形。
G100U和G150U是乾曜光學(xué)新開發(fā)的兩款正立式激光干涉儀工作站,有效口徑分別為101.6mm(4英寸)和152.4mm(6英寸)。可以測(cè)量平面面形、球面面形和曲率半徑,選配雙五維載物臺(tái),可以測(cè)量透過波前和非球面的補(bǔ)償法測(cè)量。